ICT测试治具 特点：
1. 上下针板结构：测试点可双面选点，方便电路板布线设计。
2. 凸形孔制程，提高探针准确度。
3. 使用可调试培林座，容易保养。
4. 随治具附赠Test-Link软体,可缩短PCB维修工时.
5. 针板FR4材质，不易变形，长久使用不影响探针准确度。
6. 可安装HP-Test Jet 或 Teradyne Fram Scan+功能之感应板放大器。
7. 适用于单双面有测试点的待测板，如：Notebook,及零件高度较低之待测板。
8. 采用铝框Kit(可依客户要求),优点:
a) 可回收，符合ISO14000环保要求。
b) 具有防静电功能。
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